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专业逻辑
Texas Instruments
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
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SNJ54BCT8374AFK
零件编号：
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数量：
RoHS 状态 ：
规格书：
SNJ54BCT8374AFK
专业逻辑
Texas Instruments
SCAN TEST DEVIC
专业逻辑
管子
1
产品参数
PDF(1)
类型描述
制造商Texas Instruments
系列54BCT
包裹管子
产品状态ACTIVE
包装/箱28-CLCC
安装类型Surface Mount
位数8
逻辑类型Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
工作温度-55°C ~ 125°C
电源电压4.5V ~ 5.5V
供应商设备包28-LCCC (11.43x11.43)
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