SN74BCT8373ADW

零件编号:
SN74BCT8373ADW
产品分类:
集成电路 (IC) / 逻辑 / 专业逻辑
制造商:
Texas Instruments
描述:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
封装:
-
包装:
-
数量:
0
RoHS 状态:
支持
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起订量:1

数量 价格 总价
1+ $9.35 $9.35

产品参数

安装类型 Surface Mount
工作温度 0°C ~ 70°C
位数 8
包装/箱 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
供应商设备包 24-SOIC
电源电压 4.5V ~ 5.5V
逻辑类型 Scan Test Device with D-Type Latches